como componente de electrones, diodo emisor de luz ha aparecido más de 40 años. pero durante mucho tiempo, limitado por la eficiencia luminosa y el brillo, el diodo emisor de luz ha sido una luz indicadora. hasta el final del siglo pasado, el cuello de botella técnico se rompió, produjo un alto brillo y alta eficiencia led y uv led , que extendió su ámbito de aplicación a la lámpara de señal, proyecto de vista nocturna de la ciudad, pantalla a todo color, etc., y proporcionó la posibilidad de fuente de iluminación. Con el aumento del alcance de la aplicación LED, es más importante mejorar la confiabilidad del LED.

led tiene las ventajas de pequeño volumen, bajo consumo de energía, larga vida, protección del medio ambiente, alta confiabilidad. en el proceso real de producción y desarrollo, el nivel de confiabilidad de chip led necesita ser evaluado a través de la prueba de vida, y mejora el nivel de confiabilidad del chip conducido a través de comentarios de calidad para garantizar la calidad del chip dirigido. con el fin de realizar la industrialización de todo el color dirigido, las condiciones, métodos, medios y dispositivos para la prueba de vida de chip led se desarrollan, a fin de mejorar la naturaleza científica y la precisión de los resultados.

determinación de las condiciones de prueba de vida

en las condiciones ambientales y de trabajo especificadas, el trabajo de los productos electrónicos se denomina prueba de vida, también conocida como prueba de durabilidad.

con la mejora de la tecnología de producción led, la vida y la fiabilidad de los productos han mejorado mucho. la vida teórica de led es 100,000 horas. si todavía se utiliza la prueba de vida bajo estrés nominal convencional, es difícil hacer una evaluación más objetiva de la vida útil y la confiabilidad del producto. sin embargo, el objetivo principal del experimento es comprender la atenuación de chip led ultravioleta salida óptica por prueba de vida, y luego para inferir su vida útil.

de acuerdo a las características de dispositivos led uv Después de la prueba de comparación y el análisis estadístico, las condiciones de prueba de vida de los microchips se especifican en 0.3x ~ 0.3mm2 al final:

1.la muestra fue seleccionada al azar, y la calidad fue de 8 ~ 10 fichas, compuestas por 5 lámparas individuales.

2. la corriente de trabajo era 30ma.

3. la condición del medio ambiente es la temperatura interior (25 ℃ ± 5 ℃).

4. el período de prueba se dividió con 96 horas, 1,000 horas y 5,000 horas.

la corriente de trabajo de 30ma es 1.5 veces el valor nominal, es la prueba de vida de aumento de la tensión eléctrica. su resultado no puede representar la expectativa de vida real, pero hay un gran valor de referencia. la prueba de vida fue hecha por las rebanadas epitaxiales, fue la extracción aleatoria de 8 ~ 10 chips en una de las rebanadas epitaxiales, se realizó una prueba de vida de 96 horas, que el resultado representó todas las rebanadas epitaxiales producidas en este lote de producción.

en general, se cree que el ciclo de prueba de 1,000 horas o más se llama prueba de vida a largo plazo. cuando el proceso de producción es estable, la frecuencia de prueba de vida de 1,000 horas es baja, y la frecuencia de prueba de vida de 5,000 horas es menor.

procedimientos y precauciones

para chip led Las muestras de prueba de vida se pueden usar con un chip, que comúnmente se conoce como cristal desnudo, también se puede usar el dispositivo que se encapsula.

usando la forma de cristal desnudo, la tensión externa es pequeña y fácil de disipar el calor. por lo tanto, la atenuación de la luz es pequeña, la vida útil es larga, hay un espacio en la aplicación real, se puede ajustar aumentando la corriente, pero es mejor usar un solo dispositivo de lámpara directamente.

el experimento de la vida del dispositivo de una sola lámpara hizo que los factores del fotoenvejecimiento de los dispositivos fueran complicados. puede haber un factor de chip, también hay factores de encapsulación. en el proceso de experimento, tomando una variedad de medidas, reduciendo el impacto de la encapsulación, mejorando los detalles de la precisión de los resultados de la prueba, solo de esta manera, se garantiza la objetividad y precisión de los resultados de la prueba.

Método de extracción 1.sample

la prueba de vida solo puede usar el método de prueba de muestreo, que tiene cierto riesgo.

En primer lugar, la calidad del producto tiene un cierto grado de uniformidad y estabilidad, que es la premisa de la evaluación de muestreo. solo si la calidad del producto es uniforme, el muestreo es representativo.

en segundo lugar, debido a que la calidad del producto real tiene cierta discreción, tomamos el método de muestreo aleatorio de partición para mejorar la precisión de los resultados de la prueba de vida. al buscar la información relevante y realizar una gran cantidad de experimentos comparativos, propusimos un método de extracción de muestra más científico: de acuerdo con su posición en el chip epitaxial, el chip se divide en cuatro zonas, con 2 ~ 3 chips en cada región, y 8 ~ 10 fichas en total. para diferentes dispositivos tiene diferentes resultados de prueba de vida e incluso contradictorio. estipulamos un método para la prueba de vida que es con 4 ~ 6 chips en cada región, y 16 ~ 20 chips en total, probados en condiciones normales. solo la cantidad se ajustó, no la condición de prueba.

en tercer lugar, en términos generales, cuanto mayor es la muestra, menor es el riesgo, más preciso es el resultado de los resultados de la prueba de vida. sin embargo, cuantas más muestras se muestrearan, inevitablemente resultaría en el desperdicio de mano de obra, recursos materiales y tiempo, y el costo de la prueba debe aumentar. es en lo que hemos estado trabajando cómo lidiamos con la relación entre riesgo y costo. Nuestro objetivo es maximizar el riesgo al mismo costo tomando un enfoque de muestreo científico.

2. Método de prueba del parámetro fotoeléctrico y curva de distribución del dispositivo

en la prueba de vida de led, la muestra de prueba se seleccionó mediante prueba de parámetros fotoeléctricos al principio. se eliminaron los parámetros o dispositivos fotoeléctricos anormales. los productos calificados deben ser numerados y puestos en la prueba de vida. la prueba debe llevarse a cabo después de la prueba continua, para obtener los resultados de la prueba de vida.

para que los resultados de las pruebas de vida sean objetivos y precisos, excepto para medir bien el instrumento, también se estipula que se usará el mismo instrumento de prueba antes y después de la prueba, que es para reducir los errores innecesarios. esto es particularmente importante para los parámetros de luz. en la etapa inicial, usamos el cambio de la intensidad de la luz del dispositivo de medición para juzgar la condición de la luz. la intensidad de la luz axial del dispositivo de prueba general, para un dispositivo con una mitad = ángulo de la curva de distribución de la luz, la magnitud de la intensidad de la luz varía drásticamente con la geometría, midiendo la capacidad de repetición es débil, lo que afecta la objetividad y precisión del resultados de la prueba. con el fin de evitar esta situación, se adopta un gran ángulo de encapsulado, y no se eligió portavasos reflector, para eliminar el efecto de taza de reflexión con la luz, para eliminar la influencia del rendimiento óptico y mejorar la precisión de la prueba de parámetros ópticos . la posterior adopción de la medición del flujo luminoso se verifica.

3. el efecto de las resinas en la prueba de la vida

la transparencia del material de encapsulación epoxi existente se ve reducida por la radiación ultravioleta, es el fotoenvejecimiento de los materiales poliméricos, es el resultado de una serie de reacciones complejas que implican radiación ultravioleta y oxígeno. en general se cree que el proceso de oxidación automática causada por la luz. la influencia del deterioro de la resina en los resultados de las pruebas de vida refleja principalmente 1,000 horas o más de la prueba de vida larga. en la actualidad, los resultados de la prueba de vida se pueden mejorar reduciendo la radiación ultravioleta tanto como sea posible. en el futuro, también se puede usar para seleccionar materiales encapsulados, o para verificar el valor de desintegración óptica de la resina epoxi, y para excluirlo de la prueba de vida.

4. el efecto del proceso de encapsulación en la prueba de la vida

el proceso de encapsulación tiene una gran influencia en la prueba de vida. se utilizó resina transparente, que puede observar directamente la fijación interna y la unión al microscopio para el análisis de fallas. pero no se pueden observar todos los defectos de encapsulación. por ejemplo, la calidad y el proceso de unión de las uniones de soldadura están estrechamente relacionados con la temperatura y la presión. Una temperatura demasiado alta y una presión demasiado alta harán que la deformación del chip produzca estrés. por lo tanto, introduciendo la dislocación e incluso el crack oscuro, que afecta la eficiencia y la vida de la luz.

el atractivo cambio de tensión de la unión de avance, la encapsulación de resina, como la disipación de calor, el coeficiente de expansión son los factores importantes que influyen en los resultados de la prueba de vida. los resultados de su prueba de vida son peores que los de la vida del cristal desnudo. sin embargo, para el chip de potencia de baja corriente, el rango de calidad de la evaluación aumenta, y los resultados de la prueba de vida están más cerca del uso real, que tiene cierto valor de referencia para el control de producción.